電磁預(yù)兼容（EMI）測(cè)試

測(cè)試目的：定位干擾源和傳播途徑

測(cè)試方法： 使用頻譜儀和近場(chǎng)探頭掃描特定的頻段，確定干擾源的頻譜特性，根據(jù)測(cè)量結(jié)果定位干擾源的傳播路徑及評(píng)估整改效果

隨著科學(xué)技術(shù)和電子工業(yè)的高速發(fā)展，各種數(shù)字化、高頻化的電子電器設(shè)備在工作時(shí)向空間輻射了大量不同波長(zhǎng)的頻率的電磁波，從而導(dǎo)致了新的環(huán)境污染--電磁波干擾(Electromagnetic Interference ,EMI)。

EMI測(cè)試是電磁兼容性 (EMC) 輻射發(fā)射預(yù)兼容測(cè)試中的一個(gè)重要組成。EMI 機(jī)構(gòu)使用EMI接收機(jī)和經(jīng)過準(zhǔn)確校準(zhǔn)的天線來測(cè)試3或10米距離上的器件。這稱為遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。電磁場(chǎng)的特性主要由被測(cè)器件 (DUT) 以及它與接收機(jī)和天線的距離決定。遠(yuǎn)場(chǎng)輻射發(fā)射測(cè)量可以準(zhǔn)確地告訴我們被測(cè)器件是否符合相應(yīng)的EMC/EMI 標(biāo)準(zhǔn)。

但是，遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試也有一些局限性。它無法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于USB、LAN 之類的通信接口，還是來自殼體的縫隙，或來自連接的電纜乃至電源線。在這種情況下，我們只能使用頻譜分析儀和近場(chǎng)探頭，通過近場(chǎng)測(cè)試來定位這些發(fā)射源。近場(chǎng)測(cè)試是一種相對(duì)量測(cè)試，這意味著它需要把被測(cè)器件的測(cè)試結(jié)果與基準(zhǔn)器件的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較，以預(yù)測(cè)被測(cè)器件通過一致性測(cè)試的可能性。需要注意的是，比較近場(chǎng) 測(cè)試結(jié)果與EMI標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試極限是沒有意義的，因?yàn)闇y(cè)試讀數(shù)受許多因素的影響，包括探頭位置和被測(cè)器件的形狀等。

沈陽實(shí)拓成立的開放實(shí)驗(yàn)室正是針對(duì)EMI預(yù)兼容（輻射）近場(chǎng)測(cè)量提供了解決方案，采用了是德科技的N9000B+N6141C軟件+近場(chǎng)探頭，來幫助工程師對(duì)你設(shè)計(jì)執(zhí)行預(yù)兼容測(cè)量和診斷評(píng)測(cè)。

方案組成：N9000B + N6141C選件 + N9311X-100（是德科技產(chǎn)品）

通過簡(jiǎn)單的操作步驟來定位干擾源和傳播途徑：

1.使用頻譜儀和近場(chǎng)探頭掃描特定的頻段

2.確定干擾源的頻譜特性

3.根據(jù)測(cè)量結(jié)果定位干擾源的傳播路徑及評(píng)估整改效果

 

以下是EMI輻射測(cè)試過程中部分測(cè)量結(jié)果的效果圖：